半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置

產品名稱: 半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置

產品型號: YP-150ID

產品特點: 半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置
日本山田光學 YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設備，主要用于半導體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點和技術參數：
主要特點：
超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備。
色溫高：鹵素燈色溫達 3,400

半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置 的詳細介紹

半導體高精度檢測鹵素光源燈裝置

日本山田光學 YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設備，主要用于半導體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點和技術參數：

主要特點：

超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備。
色溫高：鹵素燈色溫達 3,400K，照明穩定、銳利，適合高精度檢測。
兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應不同檢測需求。

技術參數（YP-150ID）：

表格

復制

項目	參數值
照射直徑	φ30 mm
照度	≥400,000 Lx
光束距離	140 mm
燈泡型號	JCR15V150W（牛尾）
燈泡壽命	35–50 小時
色溫	3,400 K
冷卻方式	強制風扇冷卻
尺寸（燈屋部分）	100×245×116 mm
重量（燈屋部分）	約 1.7 kg
電源	AC 100V，50/60Hz
功耗	約 200W

應用場景：

半導體晶圓表面缺陷檢測（如劃痕、異物、霧度等）；
液晶基板、玻璃等材料的表面質量檢查；
適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查。

YP-150ID 是精密制造行業中用于高亮度照明檢測的理想選擇，尤其適合對微小缺陷有高靈敏度要求的場合。

日本山田光學 YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設備，主要用于半導體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點和技術參數：

主要特點：

超高亮度：樣品表面照度可達 400,000 Lx 以上，能清晰檢測微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
冷鏡技術：采用冷鏡減少熱影響，熱效應僅為傳統鋁鏡的 1/3，有效保護樣品和設備
。
色溫高：鹵素燈色溫達 3,400K，照明穩定、銳利，適合高精度檢測
。
兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應不同檢測需求。

技術參數（YP-150ID）：

表格

復制

項目	參數值
照射直徑	φ30 mm
照度	≥400,000 Lx
光束距離	140 mm
燈泡型號	JCR15V150W（牛尾）
燈泡壽命	35–50 小時
色溫	3,400 K
冷卻方式	強制風扇冷卻
尺寸（燈屋部分）	100×245×116 mm
重量（燈屋部分）	約 1.7 kg
電源	AC 100V，50/60Hz
功耗	約 200W