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產(chǎn)品資料
首頁(yè) >>> 產(chǎn)品中心 >>> 光源設(shè)備 >>> 檢查燈 >>> YP-150ID潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備

潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備

產(chǎn)品名稱: 潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備
產(chǎn)品型號(hào): YP-150ID
產(chǎn)品特點(diǎn): 潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備
日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù):
主要特點(diǎn):
超高亮度:樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上,能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
冷鏡技術(shù):采用冷鏡減少熱影響,熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3,有效保護(hù)樣品和設(shè)備 。
色溫高:鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,

潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備 的詳細(xì)介紹

潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備

潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備

日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù):

主要特點(diǎn):

  • 超高亮度:樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上,能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
  • 冷鏡技術(shù):采用冷鏡減少熱影響,熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3,有效保護(hù)樣品和設(shè)備。
  • 色溫高:鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400K,照明穩(wěn)定、銳利,適合高精度檢測(cè)。
  • 兩段式切換:支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式,適應(yīng)不同檢測(cè)需求 。

技術(shù)參數(shù)(YP-150ID):

表格
復(fù)制
項(xiàng)目參數(shù)值
照射直徑φ30 mm
照度≥400,000 Lx
光束距離140 mm
燈泡型號(hào)JCR15V150W(牛尾)
燈泡壽命35–50 小時(shí)
色溫3,400 K
冷卻方式強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻
尺寸(燈屋部分)100×245×116 mm
重量(燈屋部分)約 1.7 kg
電源AC 100V,50/60Hz
功耗約 200W

應(yīng)用場(chǎng)景:

  • 半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(cè)(如劃痕、異物、霧度等);
  • 液晶基板、玻璃等材料的表面質(zhì)量檢查;
  • 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查 。
YP-150ID 是精密制造行業(yè)中用于高亮度照明檢測(cè)的理想選擇,尤其適合對(duì)微小缺陷有高靈敏度要求的場(chǎng)合。
日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù):

主要特點(diǎn):

  • 超高亮度:樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上,能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
  • 冷鏡技術(shù):采用冷鏡減少熱影響,熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3,有效保護(hù)樣品和設(shè)備
  • 色溫高:鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400K,照明穩(wěn)定、銳利,適合高精度檢測(cè)
  • 兩段式切換:支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式,適應(yīng)不同檢測(cè)需求 。

技術(shù)參數(shù)(YP-150ID):

表格
復(fù)制
項(xiàng)目參數(shù)值
照射直徑φ30 mm
照度≥400,000 Lx
光束距離140 mm
燈泡型號(hào)JCR15V150W(牛尾)
燈泡壽命35–50 小時(shí)
色溫3,400 K
冷卻方式強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻
尺寸(燈屋部分)100×245×116 mm
重量(燈屋部分)約 1.7 kg
電源AC 100V,50/60Hz
功耗約 200W

應(yīng)用場(chǎng)景:

  • 半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(cè)(如劃痕、異物、霧度等);
  • 液晶基板、玻璃等材料的表面質(zhì)量檢查;
  • 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查 。
YP-150ID 是精密制造行業(yè)中用于高亮度照明檢測(cè)的理想選擇,尤其適合對(duì)微小缺陷有高靈敏度要求的場(chǎng)合。



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