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產(chǎn)品資料
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非接觸式高精度工藝穩(wěn)定型紅外溫度計

產(chǎn)品名稱: 非接觸式高精度工藝穩(wěn)定型紅外溫度計
產(chǎn)品型號: IT-470F-H
產(chǎn)品特點: 非接觸式高精度工藝穩(wěn)定型紅外溫度計
**高精度溫度計
IT-470F-H 是一款內(nèi)置式非接觸式紅外溫度計,具有業(yè)界*的*精度。它有助于提高半導體和 FPD 生產(chǎn)的工藝穩(wěn)定性。

*2017年內(nèi)部研究的成果。

非接觸式高精度工藝穩(wěn)定型紅外溫度計 的詳細介紹

非接觸式高精度工藝穩(wěn)定型紅外溫度計

非接觸式高精度工藝穩(wěn)定型紅外溫度計

應用

用于需要高精度溫度測量的半導體和FPD生產(chǎn)

  • 如果樣品位于真空室中
    可以從室外通過窗口對樣品進行溫度測量。

  • 在FPD生產(chǎn)過程中對液晶襯底的表面溫度進行測量時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

  • 在拋光過程中進行溫度控制時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

應用

用于需要高精度溫度測量的半導體和FPD生產(chǎn)

  • 如果樣品位于真空室中
    可以從室外通過窗口對樣品進行溫度測量。

  • 在FPD生產(chǎn)過程中對液晶襯底的表面溫度進行測量時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

  • 在拋光過程中進行溫度控制時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

應用

用于需要高精度溫度測量的半導體和FPD生產(chǎn)

  • 如果樣品位于真空室中
    可以從室外通過窗口對樣品進行溫度測量。

  • 在FPD生產(chǎn)過程中對液晶襯底的表面溫度進行測量時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

  • 在拋光過程中進行溫度控制時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

應用

用于需要高精度溫度測量的半導體和FPD生產(chǎn)

  • 如果樣品位于真空室中
    可以從室外通過窗口對樣品進行溫度測量。

  • 在FPD生產(chǎn)過程中對液晶襯底的表面溫度進行測量時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。

  • 在拋光過程中進行溫度控制時
    由于是非接觸式測量,物體表面不會被損壞。



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